KATEDRA MIKROELEKTRONIKY

ÚVOD
O KATEDŘE
LIDÉ
VÝUKA
- Výuka předmětů
- Závěrečné práce a SZZ
VÝZKUM
English

Analýza životnosti elektronických zařízení

18/04/2016 spravce Comments Off on Analýza životnosti elektronických zařízení

← Mikrosystémy MEMS

EMC na čipu →

Poslední příspěvky

Novinky Výuka

BTL bastlírna

28/11/2023
Novinky Výzkum

Úspěšný POSTER23

15/05/2023
Novinky

Exkurze studentů do BTL

12/05/2023

Aktuality FEL ČVUT

Vyjádření děkana, garantů studijních programů a vedoucích kateder ke studentské anketě FEL za zimní semestr 2023/2024 17/04/2024
Výsledky rozdělení studentů 1. ročníku prezenční formy bakalářských programů EEM, SIT a OI do specializací 03/04/2024
Workshop NEBoj se spolupráce! 02/04/2024
Předběžné zápisy do zimního semestru akad. roku 2024/2025 24/03/2024
Přihlášení ke státní závěrečné zkoušce v letním termínu akad. roku 2023/2024 24/03/2024

Kalendář akcí FEL ČVUT

TSRI & ČVUT Letní škola pokročilého designu integrovaných obvodů 17/06/2024
Habilitační přednáška (RNDr. Zdeněk Mihula, Ph.D.) 12/06/2024
Den Lékařským fyzikem na FJFI ČVUT 05/06/2024
doc. S. Entler: Specifické rysy budoucích fúzních elektráren [Fyz. čtvrtek] 23/05/2024
28. mezinárodní studentská vědecká konference Poster 2024 23/05/2024

Novinky ČVUT

1. 2. 2023, 20.19
Nový nástroj umožňuje vyhledat VÝSLEDKY vědecko-výzkumné činnosti ČVUT za posledních 5 let https://results.cvut.cz/.

(C) Katedra mikroelektroniky FEL ČVUT v Praze, Technická 2, 166 27 Praha 6